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產(chǎn)品時(shí)間:2024-09-05
簡(jiǎn)要描述:日本sisco無(wú)損檢查射線照相測(cè)試(RT)輻射透射測(cè)試?yán)昧诉@樣的事實(shí),即諸如X射線和伽馬射線的輻射穿透了該物質(zhì)以及照相膠片被曝光的性質(zhì),并且該射線被透射到樣本,并且內(nèi)部狀態(tài)被記錄為膠片上的拍攝圖像。這是一種用于檢查內(nèi)部缺陷狀態(tài)和試樣內(nèi)部結(jié)構(gòu)的無(wú)損檢查方法。
日本sisco無(wú)損檢查射線照相測(cè)試(RT)
輻射透射測(cè)試?yán)昧诉@樣的事實(shí),即諸如X射線和伽馬射線的輻射穿透了該物質(zhì)以及照相膠片被曝光的性質(zhì),并且該射線被透射到樣本,并且內(nèi)部狀態(tài)被記錄為膠片上的拍攝圖像。這是一種用于檢查內(nèi)部缺陷狀態(tài)和試樣內(nèi)部結(jié)構(gòu)的無(wú)損檢查方法。
當(dāng)輻射穿透樣品時(shí),與聲音部分和厚度較大的部分相比,更多的輻射會(huì)穿透具有內(nèi)部缺陷的部分和厚度較小的部分,從而使薄膜更敏感。因此,在沖洗膠片時(shí),透射輻射量較高的區(qū)域會(huì)顯得更黑,您可以獲得具有不同陰影的透射照片。通過(guò)觀察該透射照片,可以知道內(nèi)部缺陷的狀態(tài)和試樣的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
日本sisco無(wú)損檢查射線照相測(cè)試(RT)
放射線透射試驗(yàn)的特征
還有一種稱為放射線照相術(shù)(D-RT)的方法,稱為數(shù)字放射線照相術(shù)(D-RT),它可以將輻射量提取為數(shù)字化的電信號(hào)并可視化,典型的示例是計(jì)算放射線照相術(shù)(CR)。 .. CR使用稱為成像板(IP)的X射線檢測(cè)器代替膠片來(lái)拍攝圖像,并通過(guò)讀取設(shè)備讀取IP中記錄的X射線圖像數(shù)據(jù),并將拍攝結(jié)果輸出為數(shù)字圖像??赡艿南到y(tǒng)。
數(shù)字射線照相的特點(diǎn)
支持各種檢查
除通用X射線設(shè)備和γ射線設(shè)備外,它還配備了大功率輻射設(shè)備和大型輻射室。
我們支持廣泛的檢查,從薄板到超過(guò)300毫米的超厚產(chǎn)品,從小巧的手提式產(chǎn)品到大型的100 t級(jí)產(chǎn)品。
按照各種標(biāo)準(zhǔn)拍攝,包括國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)
我們拍攝照片并創(chuàng)建符合各種標(biāo)準(zhǔn)(例如JIS,ASME,ASTM,EN和ISO)的證明文件。
支持?jǐn)?shù)字放射攝影
我們介紹了計(jì)算機(jī)放射成像(CR)系統(tǒng),它是數(shù)字放射照相的方法之一。通過(guò)將拍攝結(jié)果轉(zhuǎn)換為數(shù)字圖像,您可以在PC上管理和利用數(shù)據(jù),而無(wú)需處理和存儲(chǔ)膠卷,并且可以通過(guò)根據(jù)部分和目的進(jìn)行圖像處理來(lái)提高圖像質(zhì)量。
目標(biāo)設(shè)備